back scattered electron detector: BSE detector
supply Scanning Electron Microscope (SEM) images with a high material contrast, used for the detection of
particles on a membrane filter
blank test: analysis carried out with the same operating conditions as on the test component but without the component
News
Wir sind mit einem Vortrag im Fachforum in Halle 1, Stand F 608 / G 705
der 8. parts2clean 2010 – Internationale Leitmesse für Reinigung in Produktion und Instandhaltung
in der Messe Stuttgart vertreten.
Besuchen Sie uns am Mittwoch,
den 13. Oktober 2010 um 14:30 Uhr.
Wir freuen uns auf Sie!